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机译:半导体中简单表面缺陷引起的位错成核的理论研究
Godet, Julien; Pizzagalli, Laurent; Brochard, Sandrine; Beauchamp, Pierre;
机译:半导体中简单表面缺陷的位错形核的理论研究
机译:自由表面的部分位错成核:理论研究
机译:半导体表面台阶引起的部分位错成核:迁移率效应的第一种方法
机译:连续体和原子方法相结合的研究从原子尺寸表面缺陷位错成核
机译:疲劳材料的缺陷行为,表面形貌和裂纹成核的表面分析研究和理论模型
机译:用于量产纳米电子的III–V化合物半导体:位错迁移率降低的理论研究
机译:简单表面缺陷位错成核的理论研究 在半导体中
机译:多激光确定。半导体表面缺陷浓度-评估发射曲线陡峭部分的积累原子和缓慢下降部分的位错
机译:用于检测和研究集成电路器件中晶格位错缺陷的测试结构和方法
机译:检测和研究集成电路设备中的晶格位移缺陷的测试结构和方法
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